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Multi-Instrument (万用仪)- 设备检测计划
Multi-Instrument - Device Test Plan
性能指标

1. 提供了一个配置并运行您自己的设备测试步骤的工具。它利用了声卡(或其它ADC/DAC硬件)能同时进行输入输出的特点,来向被测设备(DUT)输出一个激励信号,同时采集从被测设备返回的响应信号来进行处理分析。本工具支持生成不同的激励信号,并能用不同的方法来处理和分析响应信号。

2. 支持25种指令及其相应的参数。支持在脚本中采用变量。

3. 可测试多达242个导出参数和16个用户自定义参数,包括有效值、峰值频率、声压值、转速、增益、THD等。

4. 测试结果(例如:幅频特性、相频特性等)可实时由X-Y图绘制出来,并可实时生成一个文本的检测报告(称为设备检测计划执行报告),支持多达8个X-Y图。X-Y图中的数据可以输出为TXT文本文件,或按文本方式复制到粘贴板中以便粘贴到其它软件(例如:Microsoft Excel)中作进一步的处理和分析。X-Y图中的图形也可以按位图方式复制到粘贴板中以便粘贴到其它软件(例如:Microsoft Word)中。该图形也可直接打印出来或输出为BMP位图文件。设备检测计划执行报告中的数据可保存为TXT文本文件。

5. 支持数据文件的批处理和信号序列的捕捉及存储。

6. 可创建、编辑、修改、保存、上锁、加载、执行一个设备测试计划。

7. 有两种设备测试计划:上锁的和未上锁的。上了锁的设备测试计划不允许被修改。

8. 支持合格/不合格的检验。支持通过串行通讯与外部系统连接。

9. 在Windows2000、XP、Vista、7、8、8.1、10、11及以上的版本下,用户界面支持多国语言,包括:简体中文、繁体中文、英文、法文、德文、意大利文、西班牙文、葡萄牙文、俄文、日文和韩文。


示例

Multi-Instrument Device Test Plan Pass Fail Test
通过与不通过测试
Multi-Instrument Device Test Plan Gain and Phase Plot
用步进正弦信号来测量增益和相位图
Multi-Instrument Device Test Plan THD, THD+N, SNR, Magnitude Response vs Frequency
THD, THD+N, SNR, 幅度响应 ~ 频率
Multi-Instrument Device Test Plan Crosstalk vs Frequency
串扰 ~ 频率
Multi-Instrument Device Test Plan THD and THD+N vs Magnitude and Power
THD 和 THD+N ~ 幅度和功率
Multi-Instrument Device Test Plan IMD vs Magnitude and Power
IMD ~ 幅度和功率
THD vs Output dBFS
DAC的THD输出 vs dBFS输出
 
 
dBV vs Output dBFS
DAC的THD输出 vs dBFS输出(输入-输出线性图 )
(在频域内用窄带测量 dBV 以排除噪声)

Howling Test System
基于 Modbus RTU 协议的 PLC 通信汽车空调呼啸试验系统
 
Subwoofer CEA-2010 Max. Output Test
低音炮最大输出 SPL 测试根据 CEA-2010
 
Howling Test System
使用 1Hz 至 50MHz 的频率步进正弦信号和 DSO-2A20E
自动测距算法进行传递函数测量
 
Subwoofer CEA-2010 Max. Output Test
使用 1Hz 至 50MHz 的频率步进正弦信号和 DSO-2A20E
自动测距算法进行阻抗和相位测量
 

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